概述：
參照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》；GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》；GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》，采集集成電路恒流源系統，可充電式電源系統，上下限設定。
功能介紹：
手持式外型結構，適用于車間生產、品管抽檢，外出攜帶測量的場所；也適用于中小型半導體材料生產企業.
參數資料：
規格型號Specification model | HT-391A | HT-391B | HT-391C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10～2.00×102Ω/□ | 10～2.00×103Ω/□ | 10～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 1～2×103Ω-cm | 1～2×104Ω-cm | 1～2×105Ω-cm |
3.分辨率resolution | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
4.顯示讀數display | 液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. | ||
5.測試方式test mode | 單電測量single electrical measurement | ||
6.工作電源working power | 5V.1000mA | ||
7. 誤差errors | ≤4.5%（標準樣片結果standard samples） | ||
8.選配choose to buy | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles. | ||
參數資料
規格型號specification model | HT-392A | HT-392B | HT-392C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 0.1～2.00×102Ω/□ | 0.1～2.00×103Ω/□ | 0.1～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity range | 0.01～2×103Ω-cm | 0.01～2×104Ω-cm | 0.01～2×105Ω-cm |
3.分辨率resolution | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
4.顯示讀數display | 液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness | ||
5.測試方式test mode | 單電測量/ single electrical measurement | ||
6.工作電源working power | 5V.1000mA | ||
7. 誤差errors | ≤4.5%（標準樣片結果standard samples） | ||
8.選配choose to buy | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
HT-393系列手持式方塊電阻測試儀
技術參數資料
規格型號specification model | HT-393A | HT-393B | HT-393C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 0.01～2.00×102Ω/□ | 0.01～2.00×103Ω/□ | 0.01～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity range | 0.001～2×103Ω-cm | 0.001～2×104Ω-cm | 0.001～2×105Ω-cm |
3.分辨率resolution | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.顯示讀數display | 液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness | ||
5.測試方式test mode | 單電測量single electrical measurement | ||
6.工作電源working power | 5V.1000mA | ||
7.誤差errors | ≤4.5%（標準樣片結果standard samples） | ||
8.選配choose to buy | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
HT-394系列手持式四探針電阻率測試儀
技術參數資料
規格型號model | HT-394A | HT-394B | HT-394C |
1.方塊電阻sheet resistance | 0.001～2.00×102Ω/□ | 0.001～2.00×103Ω/□ | 0.001～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率resistivity range | 0.0001～2×103Ω-cm | 0.0001～2×104Ω-cm | 0.0001～2×105Ω-cm |
3.分辨率resolution | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.顯示讀數display | 液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness | ||
5.測試方式test mode | 單電測量single electrical measurement | ||
6.工作電源working power | 5V.1000mA | ||
7.誤差machine uncertain errors | ≤4.5%（標準樣片結果standard samples） | ||
8.選配choose to buy | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規格; 選配4：探針材質：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
適用范圍：
1.覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電*涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，
3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，
4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，
功能描述：
1. 四探針單電測量方法
2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.
3. 集成電路系統、恒流輸出.
4. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇
參照標準：
1.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）.
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
