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北京華海恒輝科技有限公司
6JB-Z系列適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體,芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
技術參數: 1、三目鏡筒:瞳矩50-75mm 視度±5° 輔助倍數1.25X 2、平場目鏡:高眼點10XΦ20mm 3、平場物鏡:PL4X,PL10X,PL40X,PL100Xoil(可調換80X干鏡) 4、轉換器 :四 孔(可選五孔轉換器) 5、總放大倍數:50X-1250X 6、載物臺:尺寸160mm*140mm 移動范圍75mm*50mm 7、聚焦鏡:可調式阿貝聚焦鏡NA1.25 孔徑光欄 濾色片座 8、調焦:粗微動同軸 升降范圍20mm 微動格值:0.002mm 9、光源:柯勒照明確正交偏振裝置 濾色片座 可調鹵素燈12V50W 10、配CCD圖像適配鏡 選型提示: 1、圖像適配鏡,數碼相機 2、圖像適配鏡,300萬數碼彩色攝像頭 3、圖像適配鏡,彩色攝像頭,圖像采集卡 4、金相顯微鏡分析系統:顯微鏡主機,CCD適配鏡,數碼彩色攝像頭300萬像素,金相分析軟件 (提示:在電腦顯示器上很方便地觀察金相圖像,對金相圖譜進行分分析,自動評級等對圖片進行 輸出、保存、打印報告等,也可對圖像進行測量等) 選配件 : *金相分析軟件;測量軟件;數碼相機;采集卡等 *目鏡:16X/20X; *物鏡:20X/25X/60X/100X干鏡 |
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