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Jandel可變高度測(cè)試臺(tái)(Automatic)Multiheight

公司簡介：

英國Jandel公司成立于1967年，專注于四探針探頭和測(cè)試儀器生產(chǎn)，其精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果以及精密的設(shè)計(jì)贏得國際同行的高度認(rèn)可和推崇。目前各種不同形狀、規(guī)格的四探針探頭已成為眾多國際一線四探針測(cè)試儀生產(chǎn)廠家的核心部件。

 

產(chǎn)品類別：

jandel可變高度測(cè)試臺(tái)

jandel多位晶片測(cè)試臺(tái)

jandel四探針測(cè)試儀專用圓柱形探頭

jandel微定位測(cè)試臺(tái)

jandel多用型測(cè)試臺(tái)

主要型號(hào)：

(Automatic)Multiheight

產(chǎn)品介紹：

l 應(yīng)用廣泛，可測(cè)量薄膜、晶片以及錠

l Z軸可變高度

l Automatic Multiheight(AFPP)配有壓力傳感器，探針與樣品接觸時(shí)自動(dòng)停止功能，避免超壓保護(hù)樣品和探針

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

l 樣品：尺寸直徑不超過250mm的樣品（可選擇直徑為300mm的樣品，無需額外費(fèi)用）

l 樣品：厚度可測(cè)量高達(dá)250mm的樣品（如有要求，可測(cè)量更高的樣品）

l 微動(dòng)開關(guān)防止探針與樣本不接觸時(shí)電流流動(dòng)

l 手動(dòng)控制探針接觸和拆卸的簡單杠桿操作

l 簡單設(shè)置單線連接探針支架和測(cè)量電子設(shè)備

l 安裝孔可選樣品臺(tái)

jandel可變高度測(cè)試臺(tái)主要應(yīng)用：

半導(dǎo)體電阻率測(cè)量