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北京金三航科技發(fā)展有限公司
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英國abi AT256集成電路篩選測試儀可測試256管腳元器件;全類型,全品牌檢測各種類型的元器件,好壞對比測試方法:1）元器件之間對比;2）存儲對比測試;豐富可試的測試條件,測試條件:電壓,電阻,頻率,測試波形可調并組合條件測試;判定對比標準可根據客戶需求設定;
英國abi-AT256集成電路篩選測試儀可達測試管腳數:256
測試適用范圍：
元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試
電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）
英國abi-AT256集成電路篩選測試儀測試原理（V-I曲線測試）：
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅動信號，產生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數據庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設定的參數包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據需要進行調整以便得到準確的信息。
集成電路測試操作如此簡單:
1.從數據庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結果.
AT256內圖1
商品輸入檢驗
不需要電子知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測試結果直接: PASS或FAIL.
軟件可設定各種測試條件.
可提供完整的元件測試分析報告.
適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT系列不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個模塊。
測試通道
提供多達256個測試通道, 可設定用于不同的元器件封裝。
用兩種模式掃瞄:
•一般模式: 掃描信號是以一固定管腳為參考點, 測試信號施加到待測元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號是以元器件的各個管腳為參考點, 測試信號循環(huán)組合施加到待測元器件上。
AT256內圖2
數據庫
用戶可根據自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測試數據庫，以備日后測試使用。創(chuàng)建一個測試庫僅需要數秒的操作時間，操作十分簡單容易。
結果比較型式:
將數據庫中的IC與待測ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測IC的好壞,提供兩種比較型式:
•與數據庫中元件比較: 被測IC的V-I曲線與數據庫中的相同型號的IC比較
• 被測IC之間比較比較: 多個集成電路的之間的V-I曲線相比較。
軟件- 靈活性
1)軟件提供測試庫圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測試庫,
2)軟件可以自定義各個通道的使用，一臺機器可以同時檢測多個器件
報告
1）軟件可產生一詳細的測量報告, 包含集成電路相片。這份報告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動態(tài)阻抗圖可儲存在pc中，并可隨時讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲數據文件夾內增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。
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