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薄產品HR30Tm和HR15Tm試驗方法
點擊次數：181 發布時間：2016-11-24
一般要求：
試驗與標準中規定的HR30T或HR15T試驗條件相似，但經協議允許在試樣背面出現變形痕跡。
試驗可用于厚度小于0.6mm至產品標準中給出的zui小厚度的產品。可對硬度在80HR30T以下的薄件進行試驗。產品標準規定的HR30Tm或HR15Tm硬度時，可按此方法試驗。
試樣支座：
試樣支座應使用直徑為4.5mm的金剛石平板。支座面應與壓頭軸線垂直，支座軸線應與主軸同軸，并能穩固地安裝于硬度計試臺上。
試樣制備：
如有必要減薄試樣，要對試樣上下兩面進行加工，加工中應避免如發熱或冷變形等對金屬基體性能的影響。基體金屬不應薄于zui小允許厚度。
壓痕距離：
如無其他規定，兩相鄰壓痕中心間距離或任一壓痕中心距試樣邊緣距離不小于5mm。
文章來自：濟南中創工業測試系統有限公司